[发明专利]TCON芯片测试方法、装置和存储介质在审
| 申请号： | 202111387948.3 | 申请日： | 2021-11-22 |
| 公开（公告）号： | CN114089162A | 公开（公告）日： | 2022-02-25 |
| 发明（设计）人： | 汤旺;杨萧;贾国强;李建伟 | 申请（专利权）人： | 惠州视维新技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 | 代理人： | 莫胜钧 |
| 地址： | 516000 广东省惠州*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种TCON芯片测试方法、装置和存储介质。该TCON芯片测试方法包括：在接收到待测试芯片的接入信号的情况下，根据所述接入信号确定对应的芯片信息，所述芯片信息包括所述待测试芯片的芯片标签；确定与所述芯片标签对应的目标测试模式；按照所述目标测试模式对所述待测试芯片进行测试，得到测试结果。上述TCON芯片测试方法、装置和存储介质可通过接入信号自动确定芯片信息，通过芯片信息自动确定目标测试模式，按照目标测试模式自动进行测试；故本申请实现了对TCON芯片的自动化测试，测试过程无需人工参与，因此提高了测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | tcon 芯片 测试 方法 装置 存储 介质 | ||
【主权项】：
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