[发明专利]一种低维光电材料的性能测试装置在审
| 申请号： | 202111372231.1 | 申请日： | 2021-11-18 |
| 公开（公告）号： | CN114136775A | 公开（公告）日： | 2022-03-04 |
| 发明（设计）人： | 闫浩然;吴炎淼;赵子默;陈君华;王彦平;郭雨 | 申请（专利权）人： | 安徽科技学院 |
| 主分类号： | G01N3/08 | 分类号： | G01N3/08;G01N3/20;G01N3/32;G01N21/17;G01B11/30 |
| 代理公司： | 西安研创天下知识产权代理事务所(普通合伙) 61239 | 代理人： | 陈明星 |
| 地址： | 233030 安*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种低维光电材料的性能测试装置，涉及光电材料检测技术领域，解决了现有装置未设置可以对多晶硅薄膜进行弯折疲劳度检测的结构的问题。一种低维光电材料的性能测试装置，包括工作台；所述工作台顶部固定连接有控制部；所述工作台顶部右侧固定连接有稳定台，稳定台顶部通过铰连接设置有往复丝杆；所述工作台顶部左侧固定连接有遮光箱，遮光箱内部设置有光电转换性能检测机构；通过控制往复丝杆持续转动，可以控制两组立架进行相反方向的往复平移，可以使多晶硅薄膜进行往复弯折，通过控制部实时监测薄膜电流情况，可以对多晶硅薄膜进行弯折疲劳度检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光电 材料 性能 测试 装置 | ||
【主权项】：
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