[发明专利]一种基于光腔吸收的衍射杂光抑制比测试系统及方法在审
| 申请号： | 202111357278.0 | 申请日： | 2021-11-16 |
| 公开（公告）号： | CN114235346A | 公开（公告）日： | 2022-03-25 |
| 发明（设计）人： | 张琢;单睿䶮;郭永祥;黄长宁;代树武;王颖;钟晓明;粘伟;徐绍伟;陈陆曦 | 申请（专利权）人： | 北京空间机电研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G01M11/04 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 程何 |
| 地址： | 100076 北京市丰*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： |
一种基于光腔吸收的衍射杂光抑制比测试系统及方法，属于航天光学技术领域。本发明系统由太阳模拟器、普通照度计、微光照度计、信号采集处理系统、光陷阱、吸光罩以及待测前挡光板组件系统组成。该系统基于光腔吸收的杂散光测试方法，采用高洁净度环境杂散光测试平台，放置光陷阱内部覆盖超黑材料用于吸收穿过前挡光板顶部直接入射的光，整个系统采用多级挡光板串联方式，具备衍射光杂光抑制能力，在非真空环境中抑制比优于10 |
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| 搜索关键词： | 一种 基于 吸收 衍射 抑制 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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