[发明专利]存储器模块筛选方法与测试装置在审
| 申请号： | 202111342711.3 | 申请日： | 2021-11-12 |
| 公开（公告）号： | CN114090354A | 公开（公告）日： | 2022-02-25 |
| 发明（设计）人： | 黄学楼 | 申请（专利权）人： | 深圳宏芯宇电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F3/06 |
| 代理公司： | 深圳市嘉勤知识产权代理有限公司 44651 | 代理人： | 刘自丽 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市福田区梅林街道梅都社区*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种存储器模块筛选方法与测试装置，存储器模块筛选方法包括：从待测试实体晶粒的多个实体面中均匀挑选多个待测试实体块；对多个待测试实体块逐一进行擦除测试，并构建用于记录该擦除测试的结果的坏块表；对坏块表中擦除测试的结果为通过的待测试实体块逐一进行写读测试，并在坏块表中记录该写读测试的结果。藉此，可在封装成存储器模块之前对存储器模块的实体晶粒做快速筛选检测，快速识别出当前实体晶粒是否能符合后续使用的存储器存储装置的使用标准，如果不符合可以在实体晶粒未封装前挡下来，节省后面的封装费用，减少损耗。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 模块 筛选 方法 测试 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳宏芯宇电子股份有限公司，未经深圳宏芯宇电子股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202111342711.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
