[发明专利]一种面向AI多芯片系统的验证平台结构和测试方法有效
| 申请号： | 202111340874.8 | 申请日： | 2021-11-12 |
| 公开（公告）号： | CN113779913B | 公开（公告）日： | 2022-03-22 |
| 发明（设计）人： | 刘斌;虞小鹏;谭年熊 | 申请（专利权）人： | 浙江大学 |
| 主分类号： | G06F30/3308 | 分类号： | G06F30/3308 |
| 代理公司： | 杭州求是专利事务所有限公司 33200 | 代理人： | 林超 |
| 地址： | 310058 浙江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种面向AI多芯片系统的验证平台结构和测试方法。本发明验证结构的主要特点是结合chiplet中AI单系统芯片和多系统芯片在不同组合情况下，能够提供伸缩性好、适配性强的灵活验证结构；即在单芯片系统下，或者多系统芯片下，可以采用同一个验证结构即能够满足不同测试场景的要求。本发明的验证结构可以在项目周期的多次迭代中，以维护为主而保留主要的验证结构，并且可以利用单芯片系统的测试用例，将其在多芯片系统的验证环境中继续复用，既满足了验证结构的扩展性，又满足了测试用例的复用性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 面向 ai 芯片 系统 验证 平台 结构 测试 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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