[发明专利]双曲线漏斗测量装置及其测量方法有效

专利信息
申请号: 202111338447.6 申请日: 2021-11-12
公开(公告)号: CN114087945B 公开(公告)日: 2023-07-28
发明(设计)人: 李浩 申请(专利权)人: 中国华冶科工集团有限公司;华北冶建工程建设有限公司
主分类号: G01B5/00 分类号: G01B5/00;G01B11/00
代理公司: 北京鸿元知识产权代理有限公司 11327 代理人: 袁文婷;张娓娓
地址: 100176 北京市大兴*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种双曲线漏斗测量装置及其测量方法,其中的测量装置包括设置在待测漏斗下方的基座以及转动连接在所述基座上的横向可调支杆,在所述横向可调支杆上设置有测量尺和测距仪;其中,所述测量尺在所述横向可调支杆上沿水平方向铺设,并且初始刻度与所述待测漏斗的中轴线对齐;所述测距仪滑动连接在所述横向可调支杆的顶面并可沿所述测量尺的方向移动,所述测距仪用于测量处于所述测量尺的预设刻度位置时与所述待测漏斗之间的距离。利用上述双曲线漏斗测量装置能够显著提高测量精度和测量工作效率,且安全性强。
搜索关键词: 双曲线 漏斗 测量 装置 及其 测量方法
【主权项】:
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