[发明专利]一种DRAM测试系统在审
| 申请号： | 202111323478.4 | 申请日： | 2021-11-10 |
| 公开（公告）号： | CN114121136A | 公开（公告）日： | 2022-03-01 |
| 发明（设计）人： | 曹端平;刘源恒;张健;李明伟;许小锋 | 申请（专利权）人： | 超存极光（上海）半导体有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 上海锡域专利代理事务所(普通合伙) 31371 | 代理人： | 肖小红 |
| 地址： | 200120 上海市浦东新区中国（上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种DRAM测试系统，包括服务器，所述服务器通过路由器连接有若干个测试设备，每个所述测试设备的外部均设置有主三色灯和若干个待测内存插槽，每个所述待测内存插槽的一侧均设置有内存指示三色灯，每个所述测试设备的内部均设置有CPU和程序运行内存；所述路由器为有线或无线；每个所述测试设备的若干个待测内存插槽组成待测内存，所述待测内存和程序运行内存均通过系统总线连接至CPU，每个所述测试设备的主三色灯和内存指示三色灯均电性连接至CPU。本发明将待测内存和程序运行内存分开，解决存在缺陷内存的测试结果不确定的问题；测试系统增加了服务器，解决了测试程序、程序参数等更新、测试日志、程序日志搜集等问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 dram 测试 系统 | ||
【主权项】：
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