[发明专利]用于放射性样品的中子照相的检测系统有效

专利信息
申请号: 202111293191.1 申请日: 2021-11-03
公开(公告)号: CN113916918B 公开(公告)日: 2022-11-25
发明(设计)人: 陈东风;孙凯;韩松柏;贺林峰;武梅梅;李正耀;李玉庆;郝丽杰 申请(专利权)人: 中国原子能科学研究院
主分类号: G01N23/05 分类号: G01N23/05
代理公司: 北京市创世宏景专利商标代理有限责任公司 11493 代理人: 王鹏鑫
地址: 102413 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明的实施例公开了一种用于放射性样品的中子照相的检测系统,包括:样品控制装置,所述放射性样品连接于所述样品控制装置,样品控制装置用于控制所述放射性样品的姿态以使所述放射性样品的不同位置位于所述中子束的入射路径上;成像装置,所述成像装置包括多个成像屏组件和成像屏控制机构。其中,所述成像屏组件具有成像位置,所述成像位置与所述放射性样品的安装位置相对应,各所述成像屏组件在所述成像位置接收穿透各不同姿态下的所述放射性样品后的中子束,用于检测所述放射性样品的不同位置;所述成像屏控制机构用于控制所述成像屏组件运动至所述成像位置或者远离所述成像位置。
搜索关键词: 用于 放射性 样品 中子 照相 检测 系统
【主权项】:
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