[发明专利]一种测试中消耗品的寿命预估方法、装置、设备及介质在审
| 申请号： | 202111290452.4 | 申请日： | 2021-11-02 |
| 公开（公告）号： | CN114169219A | 公开（公告）日： | 2022-03-11 |
| 发明（设计）人： | 李创锋 | 申请（专利权）人： | 深圳市金泰克半导体有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/27 | 分类号： | G06F30/27;G06N3/04;G06N3/08;G06F119/02 |
| 代理公司： | 深圳智汇远见知识产权代理有限公司 44481 | 代理人： | 蒋学超 |
| 地址： | 518118 广东省深圳市坪*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种测试中消耗品的寿命预估方法、装置、设备及介质，涉及内存条生产测试量产领域，所述方法包括：对消耗品进行测试，得到所述消耗品的测试结果；若所述消耗品的测试结果为异常结果，判定所述消耗品为异常消耗品；获取多个所述异常消耗品的使用时间值以及获取多个异常消耗品之间的相关性模型；根据所述多个异常消耗品之间的相关性模型和多个所述异常消耗品的使用时间值，预估所述消耗品的寿命阈值。通过根据所述多个异常消耗品之间的相关性模型和多个所述异常消耗品的使用时间值，得出消耗品的寿命阈值，能在消耗品达到寿命阈值前对消耗品进行提前更换，避免了在消耗品损坏的情况下再去更换而使得内存条测试效率降低的问题的发生。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 消耗品 寿命 预估 方法 装置 设备 介质 | ||
【主权项】：
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