[发明专利]一种测试中消耗品的寿命预估方法、装置、设备及介质

说明书

本发明涉及一种测试中消耗品的寿命预估方法、装置、设备及介质，涉及内存条生产测试量产领域，所述方法包括：对消耗品进行测试，得到所述消耗品的测试结果；若所述消耗品的测试结果为异常结果，判定所述消耗品为异常消耗品；获取多个所述异常消耗品的使用时间值以及获取多个异常消耗品之间的相关性模型；根据所述多个异常消耗品之间的相关性模型和多个所述异常消耗品的使用时间值，预估所述消耗品的寿命阈值。通过根据所述多个异常消耗品之间的相关性模型和多个所述异常消耗品的使用时间值，得出消耗品的寿命阈值，能在消耗品达到寿命阈值前对消耗品进行提前更换，避免了在消耗品损坏的情况下再去更换而使得内存条测试效率降低的问题的发生。

技术领域

本发明涉及内存条生产测试量产领域，尤其涉及一种测试中消耗品的寿命预估方法、装置、设备及介质。

背景技术

内存条生产测试过程中，用于测试的主板和转接板等其它消耗品会有寿命的限制，当测试报警仪器进行报警时不能判断导致报警的原因是由于插内存条的主板和转接板等其它消耗品有问题还是内存条本身质量问题，由于无法知道主板和转接板等其它消耗品的寿命，只能在测试报警仪器进行报警时对主板和转接板等其它消耗品进行检测，从而查看是否是主板和转接板等其它消耗品损坏的原因，导致出现了在主板和转接板等其它消耗品损坏的情况下再去更换主板和转接板等其它消耗品，会使得内存条测试效率降低的问题。

发明内容

本发明提供了一种测试中消耗品的寿命预估方法、装置、设备及介质，以解决现有技术中在主板和转接板等其它消耗品损坏的情况下再去更换主板和转接板等其它消耗品，会使得内存条测试效率降低的问题。

为了解决上述问题，本发明采用以下技术方案：包括：

第一方面，本发明提供了一种测试中消耗品的寿命预估方法，包括：

对消耗品进行测试，得到所述消耗品的测试结果；

若所述消耗品的测试结果为异常结果，判定所述消耗品为异常消耗品；

获取多个所述异常消耗品的使用时间值以及获取多个异常消耗品之间的相关性模型；

根据所述多个异常消耗品之间的相关性模型和多个所述异常消耗品的使用时间值，预估所述消耗品的寿命阈值。

其进一步的技术方案为，所述获取多个所述异常消耗品的使用时间值以及获取多个异常消耗品之间的相关性模型之后，还包括：

若所述异常消耗品的使用时间值小于预设的时间阈值，则将所述异常消耗品的使用时间值在所述多个所述异常消耗品的使用时间值中删除。

其进一步的技术方案为，所述对消耗品进行测试，得到所述消耗品的测试结果之前，还包括：

获取内存条的测试结果；

若所述内存条的测试结果为异常结果，判定所述内存条为异常内存条；

获取所述异常内存条对应的消耗品。

其进一步的技术方案为，所述获取多个异常消耗品之间的相关性模型，包括：

获取多个异常消耗品的原始属性信息；

根据所述原始属性信息，建立所述多个异常消耗品之间的相关性权重关联关系；

根据所述相关性权重关联关系建立所述多个异常消耗品之间的相关性模型。

其进一步的技术方案为，所述多个异常消耗品之间的相关性权重关联关系包括所述多个异常消耗品之间的相关性数值，所述根据所述相关性权重关联关系建立所述多个异常消耗品之间的相关性模型，包括：

以所述多个异常消耗品作为神经元，并以所述多个异常消耗品之间的相关性数值作为神经元的连接权重，建立神经网络，将所述神经网络作为所述相关性模型。