[发明专利]测试方法以及测试系统在审
| 申请号： | 202111285585.2 | 申请日： | 2021-11-02 |
| 公开（公告）号： | CN116068450A | 公开（公告）日： | 2023-05-05 |
| 发明（设计）人： | 郭益男;黄铭崇 | 申请（专利权）人： | 瑞昱半导体股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/40 | 分类号： | G01R31/40 |
| 代理公司： | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人： | 张丹 |
| 地址： | 中国台湾新*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本公开涉及测试方法以及测试系统。一种测试方法包含以下操作：藉由一讯号产生器产生一多频讯号；藉由讯号产生器将多频讯号传输至一待测装置的一输入端；藉由一频谱分析器分别量测待测装置的输入端以及待测装置的一输出端以得到对应复数频率点的复数输入纹波强度以及复数输出纹波强度；以及藉由一控制装置依据该些输入纹波强度以及该些输出纹波强度产生对应该些频率点的复数电源抑制比。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 方法 以及 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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