[发明专利]用于高精度距离测量的相位测量在审
申请号: | 202111279662.3 | 申请日: | 2021-10-29 |
公开(公告)号: | CN114578334A | 公开(公告)日: | 2022-06-03 |
发明(设计)人: | 约翰·M·库利;Y·周;迈克尔·A·吴 | 申请(专利权)人: | 硅谷实验室公司 |
主分类号: | G01S11/02 | 分类号: | G01S11/02;G01S11/04 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 庄锦军 |
地址: | 美国德*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 在至少一个实施例中,一种用于测量包括第一本地振荡器的第一通信设备和包括第二本地振荡器的第二通信设备之间的距离的方法,包括解卷绕N个相位值以产生N个解卷绕相位值。N为大于1的整数。N个相位值中的每一个指示所接收信号的瞬时相位。该方法包括对N个解卷绕相位值进行平均以产生平均相位值。该方法包括卷绕平均相位值以产生第一本地振荡器相对于第二本地振荡器的最终相位测量。 | ||
搜索关键词: | 用于 高精度 距离 测量 相位 | ||
【主权项】:
暂无信息
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