[发明专利]散射光场全息三维位移测量装置、方法及介质在审

专利信息
申请号: 202111274348.6 申请日: 2021-10-29
公开(公告)号: CN113946115A 公开(公告)日: 2022-01-18
发明(设计)人: 闫浩;陈梁友;杨佳苗;马伯乐 申请(专利权)人: 上海交通大学
主分类号: G03H1/00 分类号: G03H1/00;G03H1/02;G03H1/04;G01B7/02;G01B11/02
代理公司: 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 代理人: 胡晶
地址: 200240 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种散射光场全息三维位移测量装置、方法及介质,属于光学精密测量技术领域。本发明装置主要由激光器、扩束准直单元、第一分光镜、第二分光镜、第三分光镜、平面镜和相机组成,通过结合散射光场的全息测量和数字图像相关等技术,实现高散射物体三维矢量位移的高速同步测量。本发明融合了数字图像相关技术和散射光场的全息测量技术,具有非接触性、测量精度高、测量速度快、三维矢量位移同步测量、装置紧凑等优点,在航空航天、微型医疗机器人等高精密测量的场合具有广泛的应用前景。
搜索关键词: 散射 全息 三维 位移 测量 装置 方法 介质
【主权项】:
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