[发明专利]一种从批量厚膜晶片电阻中抽样检测装置

摘要

本发明公开了一种从批量厚膜晶片电阻中抽样检测装置，包括：用于输送厚膜晶片的输送带一；固定于所述输送带一前端面的工作台，所述工作台上端面安装有与所述输送带一平行设置的输送带二。本发明中，通过往复移动的吸盘，可以将生产线上带有厚膜电阻的晶片，取样移动至输送带二上进行电阻检测，并且安装不同数量的吸盘，与现有抽样装置相比，吸盘可以吸附在取样晶片的居中位置，防止抽样过程中造成晶片受力不均匀，断裂损坏的情况，可以根据生产线上不同数量的晶片，自由控制抽样数，提高抽样检测的精准度，且抽样速度快，无需停止生产线进行上下料抽样，更适用于厚膜晶片电阻大批量生产和抽样检测作业，提高工厂的加工效率。