[发明专利]结果数据库快速生成OPC测试版图的方法和系统、存储介质在审
| 申请号： | 202111238582.3 | 申请日： | 2021-10-25 |
| 公开（公告）号： | CN114020738A | 公开（公告）日： | 2022-02-08 |
| 发明（设计）人： | 解为梅 | 申请（专利权）人： | 上海华力集成电路制造有限公司 |
| 主分类号： | G06F16/22 | 分类号： | G06F16/22;G06F16/242 |
| 代理公司： | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人： | 刘昌荣 |
| 地址： | 201203*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种结果数据库快速生成OPC测试版图的方法和系统、存储介质，该方法包括以下步骤：步骤一，根据用户最受关注的检测项数据库，按照其格式读出各个检测项的性质并提取所需的信息以结构单元的数据格式寄存在结果数据库的树数据结构中；步骤二，读取树数据结构，选中检测项的弱点；步骤三，根据坐标生成截取盒子并通过交集逻辑操作将选中的检测项的弱点所在的GDS截取出来，寄存在Gdsii数据结构中；步骤四，将已截取出的GDS片段均匀排布，生成新的OPC测试版图。本发明方便手续芯片数据收集。 | ||
| 搜索关键词： | 结果 数据库 快速 生成 opc 测试 版图 方法 系统 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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