[发明专利]WolterI型X射线聚焦镜内壁高精度检测装置有效

专利信息
申请号: 202111194457.7 申请日: 2021-10-13
公开(公告)号: CN113884023B 公开(公告)日: 2022-05-10
发明(设计)人: 王波;廖秋岩;李铎;丁飞;薛家岱;乔政;吴言功;杨彦佶;陈勇 申请(专利权)人: 哈尔滨工业大学
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24;G01B9/02;G01B9/02055
代理公司: 哈尔滨龙科专利代理有限公司 23206 代理人: 郭莹莹
地址: 150001 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: WolterI型X射线聚焦镜内壁高精度检测装置,属于X射线聚焦镜内壁非接触检测技术领域。该检测装置用于保证大批量镜片内壁的检测精度,确保大尺寸超薄镜片低变形的同时提高检测效率。所述主动吊装装置通过支架支撑,用于吊起镜筒,所述测量装置用于测量镜筒的圆度误差和轮廓误差,测量装置安装在高精度气浮主轴上,由高精度气浮主轴带动其旋转测量,所述高精度气浮主轴安装在XY平移台上,所述XY平移台安装在支架上。本发明针对现有的通用测量仪器无法对WolterI型X射线聚焦镜内壁的面形精度进行直接检测,可实现镜片内壁轴向和圆周方向的轮廓测量,保证了检测过程中镜片的低变形、高精度,提高了检测效率,达到了降本增效的效果。
搜索关键词: wolteri 射线 聚焦 内壁 高精度 检测 装置
【主权项】:
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