[发明专利]界面组件测试方法、装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202111192746.3 | 申请日： | 2021-10-13 |
| 公开（公告）号： | CN113868145A | 公开（公告）日： | 2021-12-31 |
| 发明（设计）人： | 桂玉乐 | 申请（专利权）人： | 北京达佳互联信息技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 唐敏 |
| 地址： | 100085 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开关于一种界面组件测试方法、装置、电子设备及存储介质，所述方法包括：获取待测试界面组件，待测试界面组件包括待测试参数，待测试参数对应的参数值为空值；获取与待测试界面组件对应的测试用例，测试用例携带与待测试参数对应的测试数据；在待测试界面组件上运行测试用例，将测试数据赋值到待测试参数；根据待测试界面组件的运行结果生成待测试界面组件的测试结果。根据本公开的方案，可以剥离界面组件测试对业务端的依赖，解耦界面组件测试与业务端的耦合度，使得界面组件能够得到充分测试。 | ||
| 搜索关键词： | 界面 组件 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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