[发明专利]界面组件测试方法、装置、电子设备及存储介质在审
申请号: | 202111192746.3 | 申请日: | 2021-10-13 |
公开(公告)号: | CN113868145A | 公开(公告)日: | 2021-12-31 |
发明(设计)人: | 桂玉乐 | 申请(专利权)人: | 北京达佳互联信息技术有限公司 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 唐敏 |
地址: | 100085 北京市海淀*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 界面 组件 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
1.一种界面组件测试方法,其特征在于,包括:
获取待测试界面组件,所述待测试界面组件包括待测试参数,所述待测试参数对应的参数值为空值;
获取与所述待测试界面组件对应的测试用例,所述测试用例携带与所述待测试参数对应的测试数据;
在所述待测试界面组件上运行所述测试用例,将所述测试数据赋值到所述待测试参数;
根据所述待测试界面组件的运行结果生成所述待测试界面组件的测试结果。
2.根据权利要求1所述的界面组件测试方法,其特征在于,所述根据所述待测试界面组件的运行结果生成所述待测试界面组件的测试结果,包括:
通过样本页面展示赋值后的所述待测试界面组件的运行结果,得到展示所述测试数据的待测试页面,所述样本页面为所述待测试界面组件的展示页面;
获取所述待测试页面的检测结果,根据所述待测试页面的检测结果,生成所述待测试界面组件的测试结果。
3.根据权利要求1所述的界面组件测试方法,其特征在于,所述待测试参数的数量为多个,与每个所述待测试参数对应的测试数据的数量为多个;
所述在所述待测试界面组件上运行所述测试用例,将所述测试数据赋值到所述待测试参数,包括:
在所述待测试界面组件上运行所述测试用例,按照数据选取策略从每个所述待测试参数的多个所述测试数据中获取每个所述待测试参数的目标测试数据;
将所述目标测试数据赋值到每个所述待测试参数。
4.根据权利要求3所述的界面组件测试方法,其特征在于,所述数据选取策略包括从多个测试数据中随机选取、按照多个测试数据的排序依次选取、对多个所述待测试参数的测试数据进行交叉组合选取中的任一种。
5.根据权利要求3所述的界面组件测试方法,其特征在于,所述根据所述待测试界面组件的运行结果生成所述待测试界面组件的测试结果,包括:
每获取一组目标测试数据,生成与所述目标测试数据对应的运行结果;
根据与每组所述目标测试数据对应的运行结果,生成所述待测试界面组件的测试结果。
6.根据权利要求1~5任一项所述的界面组件测试方法,其特征在于,所述获取与所述待测试界面组件对应的测试用例,包括:
从服务器中获取与所述待测试界面组件对应的所述测试用例,所述测试用例是根据所待测试界面组件中包括的所述待测试参数编译得到,并预先存储在所述服务器中的。
7.一种界面组件测试装置,其特征在于,包括:
组件获取模块,被配置为执行获取待测试界面组件,所述待测试界面组件包括待测试参数,所述待测试参数对应的参数值为空值;
用例获取模块,被配置为执行获取与所述待测试界面组件对应的测试用例,所述测试用例携带与所述待测试参数对应的测试数据;
用例运行模块,被配置为执行在所述待测试界面组件上运行所述测试用例,将所述测试数据赋值到所述待测试参数;
结果生成模块,被配置为执行根据所述待测试界面组件的运行结果生成所述待测试界面组件的测试结果。
8.一种电子设备,其特征在于,包括:
处理器;
用于存储所述处理器可执行指令的存储器;
其中,所述处理器被配置为执行所述指令,以实现如权利要求1至6中任一项所述的界面组件测试方法。
9.一种计算机可读存储介质,其特征在于,当所述计算机可读存储介质中的指令由电子设备的处理器执行时,使得所述电子设备能够执行如权利要求1至6中任一项所述的界面组件测试方法。
10.一种计算机程序产品,所述计算机程序产品中包括指令,其特征在于,所述指令被电子设备的处理器执行时,使得所述电子设备能够执行如权利要求1至6任一项所述的界面组件测试方法。
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