[发明专利]星载相控阵天线温度变形标定系统、测量系统及其方法在审
| 申请号： | 202111187065.8 | 申请日： | 2021-10-12 |
| 公开（公告）号： | CN113948846A | 公开（公告）日： | 2022-01-18 |
| 发明（设计）人： | 严洲;高恩宇;姜秀鹏;阎凯 | 申请（专利权）人： | 北京微纳星空科技有限公司 |
| 主分类号： | H01Q1/22 | 分类号： | H01Q1/22;H01Q1/12;G01B11/16;G01B11/02;G01K13/00 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 严慧 |
| 地址： | 100094 北京市海淀区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种星载相控阵天线温度变形标定系统、测量系统及其方法，标定系统包括：不同工况下的星载相控阵天线框架本体；位于星载相控阵天线框架本体上的多个传感器组件，每个传感器组件用于采集不同工况下与其对应的星载相控阵天线框架本体上的位置的参数；光学测量模块用于测量星载相控阵天线框架本体在不同工况下的形变位移数据；主控模块与每个传感器组件和光学测量模块连接，用于根据不同工况下的每个连接部的参数以及星载相控阵天线框架本体的形变位移数据，获取参数与星载相控阵天线框架本体的形变位移数据之间的预设对应关系，以实现对星载相控阵天线的温度变形进行实时测量。 | ||
| 搜索关键词： | 相控阵 天线 温度 变形 标定 系统 测量 及其 方法 | ||
【主权项】：
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