[发明专利]一种芯片物理版图的模块验证方法、装置及系统在审

专利信息
申请号: 202111186123.5 申请日: 2021-10-12
公开(公告)号: CN114004192A 公开(公告)日: 2022-02-01
发明(设计)人: 王锐;裴增平;李建军;莫军;王亚波 申请(专利权)人: 广芯微电子(广州)股份有限公司
主分类号: G06F30/398 分类号: G06F30/398
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司 44202 代理人: 郭浩辉;许羽冬
地址: 510700 广东省广州市黄埔区*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种芯片物理版图的模块验证方法、装置及系统。该模块验证装置包括指令获取单元、数据读取单元以及执行验证单元。该模块验证系统包括数据库搭建模块、判断调试模块以及如前所述的芯片物理版图的模块验证装置。通过统一设置相同的数据存放结构以及物理验证流程,该方法、装置及系统能使得对芯片的顶层模块的物理验证和底层模块的物理验证的流程设计统一,从而实现了不同模块的验证过程的统一性和通用性,进而提升了多个顶层和底层模块批量验证时的便利性及处理效率。
搜索关键词: 一种 芯片 物理 版图 模块 验证 方法 装置 系统
【主权项】:
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