[发明专利]一种参数校验方法、装置、存储介质及计算机系统在审
| 申请号： | 202111174564.3 | 申请日： | 2021-10-09 |
| 公开（公告）号： | CN113885876A | 公开（公告）日： | 2022-01-04 |
| 发明（设计）人： | 李晶 | 申请（专利权）人： | 北京沃东天骏信息技术有限公司;北京京东世纪贸易有限公司 |
| 主分类号： | G06F8/41 | 分类号： | G06F8/41;G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人： | 王辉;阚梓瑄 |
| 地址： | 100176 北京市大兴区北京经济*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本公开的一种实施例所提供的参数校验方法中，通过在预设参数校验规则库中匹配与待校验信息对应的参数校验规则，并将该参数校验规则进行编译，能够得到可被系统识别的编译后规则，系统运行该编译后规则即可对待校验信息进行校验，得到校验结果，能够有效的将用户输入的自定义参数校验规则编译成系统可以识别的编译后规则，通过编译后规则校验待校验信息，无需进行系统升级，提高了系统在参数校验过程中的灵活性以及校验效率，进而使系统可以应对快速变化的参数校验规则或者新增参数校验规则。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 参数 校验 方法 装置 存储 介质 计算机系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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