[发明专利]一种参数校验方法、装置、存储介质及计算机系统

说明书

本公开的一种实施例所提供的参数校验方法中，通过在预设参数校验规则库中匹配与待校验信息对应的参数校验规则，并将该参数校验规则进行编译，能够得到可被系统识别的编译后规则，系统运行该编译后规则即可对待校验信息进行校验，得到校验结果，能够有效的将用户输入的自定义参数校验规则编译成系统可以识别的编译后规则，通过编译后规则校验待校验信息，无需进行系统升级，提高了系统在参数校验过程中的灵活性以及校验效率，进而使系统可以应对快速变化的参数校验规则或者新增参数校验规则。

技术领域

本公开涉及参数校验技术领域，具体涉及一种参数校验方法、装置、存储介质及计算机系统。

背景技术

参数校验是业务系统中非常重要的步骤，可以通过参数校验空值、数据长度、数据范围、参数互斥等等，以降低业务系统出现异常风险的概率。

现有的业务系统中，参数校验规则以及参数都是在开发系统的时候植入的。

业务系统开发完成之后，业务系统中的输入参数以及参数校验规则都是确定的，当需要输入自定义的参数校验规则对参数进行校验时，业务系统无法执行输入的参数校验规则。为了解决这一问题，现有技术中可以将自定义参数校验规则重新写入系统，并对业务系统进行升级，升级之后的业务系统便可执行用户输入的参数校验规则。

但是，上述在现有技术中进行自定义参数校验的方式灵活性差，当校验条件变更时，需要对系统程序进行对应的更改，参数校验方法繁琐，效率低。

发明内容

本公开的目的在于提供一种参数校验方法、装置、存储介质及计算机系统，进而至少在一定程度上克服由于相关技术的限制和缺陷而导致的现有系统针对自定义参数校验是校验方法繁琐、效率低的问题。

本公开的其他特性和优点将通过下面的详细描述变得显然，或部分地通过本公开的实践而习得。

根据本公开的第一方面，提供一种参数校验方法，所述方法包括：

接收校验请求；其中，所述校验请求包括待校验信息；

从预设参数校验规则库中匹配与所述待校验信息对应的参数校验规则；

编译所述参数校验规则，得到可被识别的编译后规则；

运行所述编译后规则对所述待校验信息进行校验，得到校验结果。

在本公开的一种示例性实施例中，所述编译所述参数校验规则，得到可被所述电子设备识别的编译后规则包括：

解析所述参数校验规则，得到符合预定语法规则的方法语句；

组合所述方法语句形成可被识别的编译后规则。

在本公开的一种示例性实施例中，

所述解析所述参数校验规则，得到符合预定语法规则的方法语句包括：

解析所述参数校验规则，得到字符序列；

识别所述字符序列中的特殊字符，并基于所述特殊字符分割所述字符序列，得到符合预定语法规则的词素序列；

编译所述词素序列，生成方法语句。

在本公开的一种示例性实施例中，

所述编译所述词素序列，生成方法语句包括：

按照类型标记所述词素序列，根据标记后的词素序列生成方法语句；其中，所述类型包括校验参数、中间变量、运算符、关系符、逻辑符、字面量、换行符中的至少一种。

在本公开的一种示例性实施例中，

所述预定语法规则包括：运算符语法规则、逻辑符语法规则、关系符语法规则中的至少一种。