[发明专利]像素阵列、图像传感器及图像传感器的自检方法在审
申请号: | 202111165044.6 | 申请日: | 2021-09-30 |
公开(公告)号: | CN115914613A | 公开(公告)日: | 2023-04-04 |
发明(设计)人: | 杨光 | 申请(专利权)人: | 思特威(上海)电子科技股份有限公司 |
主分类号: | H04N17/00 | 分类号: | H04N17/00 |
代理公司: | 上海波拓知识产权代理有限公司 31264 | 代理人: | 张媛 |
地址: | 200120 上海市浦东新区中国(上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明涉及像素阵列、图像传感器及图像传感器的自检方法,包括感光像素区域、第一参考像素区域和/或第二参考像素区域;感光像素区域包括呈阵列设置的M行N列像素;第一参考像素区域包括与感光像素区域的N列像素对应设置的n列第一参考像素;第二参考像素区域包括与感光像素区域的M行像素对应设置的m行第二参考像素。本发明通过设置与感光像素阵列的列对应的第一参考像素区域和/或与感光像素阵列的行对应的第二参考像素区域,在获取感光像素阵列的每帧图像数据时,获取第一参考像素区域和/第二参考像素区域内参考像素的输出信号,可以实现图像传感器中读出电路和/或控制电路的实时自检功能,提升图像传感器的安全性能,提升产品竞争力。 | ||
搜索关键词: | 像素 阵列 图像传感器 自检 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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