[发明专利]一种基于NAND Flash的坏块管理方法在审

专利信息
申请号: 202111157900.3 申请日: 2021-09-30
公开(公告)号: CN113921071A 公开(公告)日: 2022-01-11
发明(设计)人: 季亚男;高美洲 申请(专利权)人: 山东华芯半导体有限公司
主分类号: G11C29/00 分类号: G11C29/00
代理公司: 济南泉城专利商标事务所 37218 代理人: 赵玉凤
地址: 250101 山东省济南市高新*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明公开一种基于NAND Flash的坏块管理方法,本方法将两种坏块管理策略结合起来,根据SSD的不同Die上的坏块情况来采用不同的坏块管理方式对坏块进行管理。在SSD的生命周期初期,这时的坏块较少,宜采用替换策略的坏块管理方式,随着时间的推移,坏块变多,此时宜采用略过策略管理坏块。在整个SSD生命周期中统计每一条Die上坏块个数,根据每一条Die上坏块个数来判断调整坏块管理方式。将两种坏块管理方式的优势结合起来,保证写入并行度的同时还能避免因某一个Die上坏块过多造成的整个SSD可使用空间变少的情况。
搜索关键词: 一种 基于 nand flash 管理 方法
【主权项】:
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