[发明专利]一种基于NAND Flash的坏块管理方法在审

专利信息
申请号: 202111157900.3 申请日: 2021-09-30
公开(公告)号: CN113921071A 公开(公告)日: 2022-01-11
发明(设计)人: 季亚男;高美洲 申请(专利权)人: 山东华芯半导体有限公司
主分类号: G11C29/00 分类号: G11C29/00
代理公司: 济南泉城专利商标事务所 37218 代理人: 赵玉凤
地址: 250101 山东省济南市高新*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 nand flash 管理 方法
【权利要求书】:

1.一种基于NAND Flash的坏块管理方法,其特征在于:包括以下步骤:

步骤一:通电上电;

步骤二:全盘扫描,统计第i个Die上的初始坏块数cnti,0≤i≤N-1,N为整个SSD上Nandflash所有的Die的个数;

步骤三:设定一个阈值TH1,如果某一个Die上的坏块数超过这个阈值,就认为这个Die为坏Die,如果这个Die上的坏块数不超过这个阈值,认为该Die为好Die;

步骤四:定义一个统计坏Die个数的参数count,设定一个阈值TH2,如果count大于等于TH2,则将坏块管理策略更换为略过策略,结束流程,如果cnt小于TH2,则执行步骤五;

步骤五:在数据写入时,遇到坏块,对应Die上的坏块数加1,同时固件采用替换策略管理坏块,返回步骤三。

2.根据权利要求1所述的基于NAND Flash的坏块管理方法,其特在于:略过策略是在写入时遇到坏块直接放弃该block,直接把数据写到下一个Die上的对应block上;替换策略是把闪存空间分成两个区域:用户空间以及预留空间,在用户空间写入时发现某一个Die上有坏块,则要把写入的数据写到该Die预留空间的block上,无需跳到下一个Die上。

3.根据权利要求2所述的基于NAND Flash的坏块管理方法,其特征在于:步骤二初始化坏块管理策略为替换策略,将SSD闪存空间划分为用户空间及预留空间,步骤三将坏块管理策略更换为略过策略时,同时将预留空间与用户空间划分条件删除,统一作为用户空间使用。

4.根据权利要求1所述的基于NAND Flash的坏块管理方法,其特征在于:正常执行写入操作,在某一block上写入时,遇到写出错的情况,重新写入该block,若再次出现写错误,则将该block认定为坏块。

5.根据权利要求1所述的基于NAND Flash的坏块管理方法,其特征在于:继续采用替换策略管理坏块时,同时记录坏块到替换块对应的映射表,若发生下电,将坏块到替换块的映射表保存,上电时,将坏块到替换块对应的映射表加载上来,正常执行写操作,流程跳转到步骤二。

6.根据权利要求1所述的基于NAND Flash的坏块管理方法,其特征在于:阈值TH1取每个Die上block总数的1/4。

7.根据权利要求1所述的基于NAND Flash的坏块管理方法,其特征在于:阈值TH2取N/4。

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