[发明专利]测试证据关联自适应识别BIT虚警的方法在审
| 申请号： | 202111157091.6 | 申请日： | 2021-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN114564379A | 公开（公告）日： | 2022-05-31 |
| 发明（设计）人： | 文佳;罗海明;梁天辰;周靖宇 | 申请（专利权）人： | 西南电子技术研究所(中国电子科技集团公司第十研究所) |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36;H04B17/391;H04B17/00 |
| 代理公司： | 成飞(集团)公司专利中心 51121 | 代理人： | 郭纯武 |
| 地址： | 610036 四川*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开的一种测试证据关联自适应识别BIT虚警的方法，能准确识别BIT状态，滤除虚警。本发明通过下述技术方案予以实现：结合航电系统的复杂性、层次性、相关性和不确定性的故障特征，按照通过/未通过测试结果进行分组；系统级BIT虚警过滤算法软件基于极大似然法则判定虚警，若疑似虚警集合中某个故障指示与2个及以上“通过测试”相悖，则该故障指示判定为虚警；若通过测试集合中某个通过测试与多个故障指示相悖，则该通过测试判定为漏检；根据测试置信度先验信息对剩余疑似虚警进行处理，针对2个测试结果相悖的情况，基于测试置信度进行判定处理：置信度低的测试结果为假，置信度高的测试结果为真，并送入虚警或漏检集合。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 证据 关联 自适应 识别 bit 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西南电子技术研究所(中国电子科技集团公司第十研究所)，未经西南电子技术研究所(中国电子科技集团公司第十研究所)许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202111157091.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
