[发明专利]芯片的测试方法、装置、设备及系统在审
| 申请号： | 202111154313.9 | 申请日： | 2021-09-29 |
| 公开（公告）号： | CN113835945A | 公开（公告）日： | 2021-12-24 |
| 发明（设计）人： | 张吉兴;杨崇鹏;武艺 | 申请（专利权）人： | 深圳大普微电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F11/36 |
| 代理公司： | 深圳市六加知识产权代理有限公司 44372 | 代理人： | 陈金赏 |
| 地址： | 518000 广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请实施例涉及芯片技术领域，公开了一种芯片的测试方法、装置、设备及系统，该芯片的测试方法，应用于测试设备，该方法包括：获取验证环境输出的寄存器配置文件；转换寄存器配置文件，生成适配文件，并搭建软件测试环境，其中，适配文件适配测试设备的测试软件的软件测试代码；构建测试用例，并执行测试用例，以对芯片进行测试。通过获取验证环境输出的寄存器配置文件，转换该寄存器配置文件得到适配文件，该适配文件适配测试设备的测试软件的软件测试代码，从而能够直接嵌入到软件测试环境中，使得直接进入到软件主体测试环境的编写阶段，使得本申请能够提高芯片的测试效率，缩短芯片开发周期。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 方法 装置 设备 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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