[发明专利]一种芯片测试数据判断方法、装置、存储介质及测试方法在审
| 申请号： | 202111142344.2 | 申请日： | 2021-09-28 |
| 公开（公告）号： | CN113900869A | 公开（公告）日： | 2022-01-07 |
| 发明（设计）人： | 蒋信;刘瑞盛;喻涛 | 申请（专利权）人： | 普赛微科技（杭州）有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F30/27;G06K9/62;G06N20/00 |
| 代理公司： | 广州市越秀区哲力专利商标事务所(普通合伙) 44288 | 代理人： | 孙柳 |
| 地址： | 310000 浙江省杭州市临安区*** | 国省代码： | 浙江;33 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开一种芯片测试数据判断方法，包括以下步骤：创建机器学习判断模型，以及获取并将集成电路芯片的技术文档，集成电路芯片的参数的测试数据与参考数据作为所述机器学习判断模型的数据源对所述机器学习判断模型进行训练；然后获取待判断集成电路芯片的测试数据；最后将待判断集成电路芯片的测试数据输入到训练后的机器学习判断模型进行计算得出计算结果，并根据计算结果判断待判断集成电路芯片是否为正常芯片。本发明能够大大提高芯片测试数据判断的准确率。本发明还提供一种芯片测试数据判断装置、存储介质及测试方法。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试数据 判断 方法 装置 存储 介质 测试 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于普赛微科技（杭州）有限公司，未经普赛微科技（杭州）有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202111142344.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
