[发明专利]一种芯片测试模式控制系统及控制方法在审
| 申请号： | 202111129544.4 | 申请日： | 2021-09-26 |
| 公开（公告）号： | CN113866604A | 公开（公告）日： | 2021-12-31 |
| 发明（设计）人： | 程青云 | 申请（专利权）人： | 合肥甘尧电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 合肥律众知识产权代理有限公司 34147 | 代理人： | 赵娟 |
| 地址： | 230093 安徽省合肥市高新区*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及芯片测试，具体涉及一种芯片测试模式控制系统及控制方法，包括复位信号检测模块、测试模式判断电路和内部电路，测试模式判断电路在复位信号检测模块检测到外部复位信号时进入工作状态，并在检测到功能管脚出现指定串行序列编码时，生成测试模式信号发送至内部电路；本发明提供的技术方案能够有效克服现有技术所存在的增加成本、不便在封装完的成品芯片上进行测试、芯片内部存储信息容易被盗取的缺陷。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 模式 控制系统 控制 方法 | ||
【主权项】：
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