[发明专利]基于条纹图像的晶体折射率测量方法、装置及存储介质

摘要

本发明公开了基于条纹图像的晶体折射率测量方法、装置及存储介质，其中方法包括获取参考干涉图像和晶体干涉图像；对参考干涉图像和晶体干涉图像进行重心点计算进而得到条纹变化量；计算参考干涉图像中暗条纹的第一平均宽度像素点数和亮条纹的第二平均宽度像素点数进而得到所述参考干涉图像的条纹宽度；根据条纹变化量、条纹宽度、晶体的厚度和源光束的波长得到折射率；无需对晶体进行加工改变晶体形状即可直接进行折射率测量，且测量精度高，测量速率高，大大提升了晶体折射率测量的效率和准确率。