[发明专利]用于激光雷达的光罩脏污检测方法及光罩脏污检测系统在审

专利信息
申请号: 202111113771.8 申请日: 2021-09-23
公开(公告)号: CN116009015A 公开(公告)日: 2023-04-25
发明(设计)人: 于庆国;王磊;赵鑫;向少卿 申请(专利权)人: 上海禾赛科技有限公司
主分类号: G01S17/88 分类号: G01S17/88;G01S17/931;G01S7/48;G01N21/94;G01N21/01
代理公司: 北京律和信知识产权代理事务所(普通合伙) 11446 代理人: 郝文博
地址: 201821 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种用于激光雷达的光罩脏污检测方法,包括:S101:发射激光脉冲;S102:接收所述激光脉冲产生的杂散光脉冲;S103:根据所述杂散光脉冲的特性,判断所述激光雷达是否存在光罩脏污。本发明所提供的光罩脏污检测方法,利用激光雷达中的发射单元和接收单元对光罩脏污进行检测,其无需额外增加光源和光接收装置,结构简单。并且,该方法利用接收单元感光获得的波形所在时间窗口合理性、峰值强度、脉冲宽度和波形积分值以及满足上述条件的波形个数阈值等条件进行检测,其检测准确性高。该方法对同轴收发激光雷达的光罩脏污检测效果更佳,充分利用了同轴收发雷达系统的盲区时间,对激光雷达是否存在光罩脏污进行判断。
搜索关键词: 用于 激光雷达 脏污 检测 方法 系统
【主权项】:
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