[发明专利]一种快速识别的集成电路测试系统在审
| 申请号： | 202111086939.0 | 申请日： | 2021-09-16 |
| 公开（公告）号： | CN113671356A | 公开（公告）日： | 2021-11-19 |
| 发明（设计）人： | 刘博 | 申请（专利权）人： | 苏州博镭鸣光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G06K9/46;G06F16/2455 |
| 代理公司： | 苏州国卓知识产权代理有限公司 32331 | 代理人： | 刘颖棋 |
| 地址： | 215000 江苏省苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开的属于集成电路测试技术领域，具体为一种快速识别的集成电路测试系统，包括测试单元与控制单元，测试单元与控制单元连接，且测试单元包括识别模块、电路数据库、探针模块、元器件数据库、测试夹板、温度调节模块，识别模块用于对集成电路上的特征进行提取，并与元器件数据库中的元器件特征进行比对，本发明通过识别模块能够快速的对集成电路上的元器件进行识别，并比元器件数据库中的特征进行比对，从而生成电子集成电路图，将电子集成电路图与电路数据库中存储的多个电子集成电路图进行比对得到相匹配电子集成电路图的电源电压、电路针脚接线信息，从而方便工人更快速识别出集成电路的类型，进行正确的接线检测，提高了测试的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 快速 识别 集成电路 测试 系统 | ||
【主权项】：
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