[发明专利]一种快速识别的集成电路测试系统在审
申请号: | 202111086939.0 | 申请日: | 2021-09-16 |
公开(公告)号: | CN113671356A | 公开(公告)日: | 2021-11-19 |
发明(设计)人: | 刘博 | 申请(专利权)人: | 苏州博镭鸣光电科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G06K9/46;G06F16/2455 |
代理公司: | 苏州国卓知识产权代理有限公司 32331 | 代理人: | 刘颖棋 |
地址: | 215000 江苏省苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 快速 识别 集成电路 测试 系统 | ||
本发明公开的属于集成电路测试技术领域,具体为一种快速识别的集成电路测试系统,包括测试单元与控制单元,测试单元与控制单元连接,且测试单元包括识别模块、电路数据库、探针模块、元器件数据库、测试夹板、温度调节模块,识别模块用于对集成电路上的特征进行提取,并与元器件数据库中的元器件特征进行比对,本发明通过识别模块能够快速的对集成电路上的元器件进行识别,并比元器件数据库中的特征进行比对,从而生成电子集成电路图,将电子集成电路图与电路数据库中存储的多个电子集成电路图进行比对得到相匹配电子集成电路图的电源电压、电路针脚接线信息,从而方便工人更快速识别出集成电路的类型,进行正确的接线检测,提高了测试的效率。
技术领域
本发明涉及集成电路测试技术领域,具体为一种快速识别的集成电路测试系统。
背景技术
集成电路(integrated circuit)是一种微型电子器件或部件。采用一定的工艺,把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起,制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上,然后封装在一个管壳内,成为具有所需电路功能的微型结构;其中所有元件在结构上已组成一个整体,使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步。
是20世纪50年代后期到60年代发展起来的一种新型半导体器件。它是经过氧化、光刻、扩散、外延、蒸铝等半导体制造工艺,把构成具有一定功能的电路所需的半导体、电阻、电容等元件及它们之间的连接导线全部集成在一小块硅片上,然后焊接封装在一个管壳内的电子器件。其封装外壳有圆壳式、扁平式或双列直插式等多种形式。集成电路技术包括芯片制造技术与设计技术,主要体现在加工设备,加工工艺,封装测试,批量生产及设计创新的能力上,现在,集成电路已经在各行各业中发挥着非常重要的作用,是现代信息社会的基石。
一款集成电路设计出来,必须要进行验证测试,在这一阶段,需要对集成电路功能进行测试得到完整的验证测试信息,现有对集成电路的测试方法依赖于人工测试,需要人工对集成电路进行插线检测,效率较慢,同时由于集成电路种类较多,对不同种类的集成电路进行测试时,往往测试经验较少的工人无法快速识别出集成电路的类型,不能正确的插线检测,为测试带来了麻烦。
发明内容
本发明的目的在于提供一种快速识别的集成电路测试系统,以解决上述背景技术中提出的经验较少的工人无法快速识别出集成电路的类型,不能正确的插线检测,为测试带来了麻烦的问题。
为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:一种快速识别的集成电路测试系统,包括测试单元与控制单元,所述测试单元与控制单元连接,且测试单元包括识别模块、电路数据库、探针模块、元器件数据库、测试夹板、温度调节模块,所述识别模块用于对集成电路上的特征进行提取,并与元器件数据库中的元器件特征进行比对,根据集成电路上的元器件特征生成电子集成电路图,并将电子集成电路图与电路数据库中存储的多个电子集成电路图进行比对得到相匹配电子集成电路图的电路信息。
优选的,所述识别模块利用SIFT算法或SURF算法对集成电路上的特征进行提取,并将提取出的特征通过SSIM算法与元器件数据库中的元器件特征进行比对,所述电子集成电路图的电路信息包括电路的电源电压最大值、最小值、电路针脚接线图。
优选的,所述测试夹板用于对集成电路进行夹持固定,所述探针模块用于与测试夹板连接,并接收控制单元的信号通过测试夹板输出给集成电路,所述温度调节模块用于在集成电路上电器件工作时,提高电器件工作温度,对其寿命进行测试。
优选的,所述控制单元包括参数调节模块、电源输出模块、电压采集模块、比对模块、周期调节模块、信号输出模块、信号采集模块与数据库,所述参数调节模块用于对电源输出模块、信号输出模块的输出参数进行调节,所述周期调节模块用于对电源输出模块、信号输出模块的输出周期进行调节。
优选的,所述电源输出模块用于提供集成电路测试所需的输入电压、电流,所述信号输出模块用于提供集成电路测试所需的信号时序,且信号时序包括时钟、建立时间、保持时间与控制信号。
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