[发明专利]Nand芯片性能测试方法、板卡、系统和存储介质在审
| 申请号： | 202111086337.5 | 申请日： | 2021-09-16 |
| 公开（公告）号： | CN114187959A | 公开（公告）日： | 2022-03-15 |
| 发明（设计）人： | 李栋 | 申请（专利权）人： | 苏州浪潮智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56;G11C29/50;G11C29/42 |
| 代理公司： | 北京市万慧达律师事务所 11111 | 代理人： | 韩兵 |
| 地址： | 215168 江苏省苏州*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请涉及一种Nand芯片性能测试方法、板卡、系统和存储介质，方法包括：控制待测Nand芯片的第一影响因子至第一待测第一影响因子值；调节待测Nand芯片的第二影响因子至第一待测第二影响因子值；利用测试读写失败比特数量的原始数据对待测Nand芯片中待测样本区块进行读写操作；循环执行第一影响因子值调节和第二影响因子值调节操作，获得全部待测第一影响因子值及全部待测第二影响因子值下读写失败比特信息；对全部待测第一影响因子值及全部待测第二影响因子值下读写失败比特信息进行分析，确定待测Nand芯片性能依赖信息。通过本方案可以提前测试出Nand芯片供电不稳定对Error Bit带来的影响，在硬件电路及保险方案设计中提供理论依据。 | ||
| 搜索关键词： | nand 芯片 性能 测试 方法 板卡 系统 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州浪潮智能科技有限公司，未经苏州浪潮智能科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202111086337.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
