[发明专利]近场探头的校准方法、装置、系统、设备及存储介质在审

专利信息
申请号: 202111083991.0 申请日: 2021-09-14
公开(公告)号: CN113900058A 公开(公告)日: 2022-01-07
发明(设计)人: 邵伟恒;黄权;方文啸;王磊;黄云;路国光;易志强 申请(专利权)人: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00;G01R15/00;G01R31/28;G01R1/067
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 王天庆
地址: 511300 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本公开涉及一种近场探头的校准方法、装置、系统、设备及存储介质,方法包括对所述近场探头施加近场,获取所述近场探头在第一角度条件下的所述近场的第一特征参数,以及所述近场探头的第一总输出信号和第二总输出信号;将所述第一总输出信号和第二总输出信号通过校准矩阵、所述第一特征参数进行表征,构建第一传递模型;获取所述近场探头在第二角度条件下的所述近场的第二特征参数,以及所述近场探头的第三总输出信号和第四总输出信号;构建第二传递模型;根据所述第一传递模型和第二传递模型计算获得所述校准矩阵的参数因子。本公开消除了第一传输链路和第二传输链路不对称产生的影响,提高了近场探头扫描的准确度。
搜索关键词: 近场 探头 校准 方法 装置 系统 设备 存储 介质
【主权项】:
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