[发明专利]光性能测试线和多芯光纤阵列连接器光学测试装置在审
| 申请号： | 202111043735.9 | 申请日： | 2021-09-07 |
| 公开（公告）号： | CN113670578A | 公开（公告）日： | 2021-11-19 |
| 发明（设计）人： | 袁奇桐;叶建超;刘佑新;尹培安;叶灿国 | 申请（专利权）人： | 江苏亨通光电股份有限公司;广东亨通光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/00 | 分类号： | G01M11/00 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 李赫 |
| 地址： | 215200 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了光性能测试线和多芯光纤阵列连接器光学测试装置，该光性能测试线包括主机线组件和标准线组件，主机线组件包括主机线本体，其中，主机线本体设有第一A端和第一B端，第一B端扇出N条分支尾缆，每一分支尾缆具有一路光芯；标准线组件包括标准线本体，标准线本体包括标准线主路，标准线主路设有第二A端，标准线主路以第二A端为端点拆分形成两标准线支路，每一标准线支路包含有标准线主路的N/2路光芯，两标准线支路中的一者设有第二B1端，另一者设有第二B2端，第一A端可连接第二A端，第二B1端和第二B2端可连接待测产品线；本发明能够有效解决工厂预制成端测试效率低的问题，且能够减少标准线修复及重制成本。 | ||
| 搜索关键词： | 性能 测试 光纤 阵列 连接器 光学 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于江苏亨通光电股份有限公司;广东亨通光电科技有限公司，未经江苏亨通光电股份有限公司;广东亨通光电科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202111043735.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
