[发明专利]一种压接型IGBT子模块的冲击循环试验方法及装置在审

专利信息
申请号: 202111040364.9 申请日: 2021-09-06
公开(公告)号: CN113740694A 公开(公告)日: 2021-12-03
发明(设计)人: 朱博;毕超豪;王珂;林李波;潘海毅;薛云涛;卢灏;吴彦伟;姬煜轲;朱劲磊 申请(专利权)人: 广东电网有限责任公司广州供电局
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 陈嘉雯
地址: 510630 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本申请公开了本申请提供了一种压接型IGBT子模块的冲击循环试验方法及装置,构建包括变压器、整流模块和被试功率模块的实验电路,被试功率模块包括电容和两个串联的压接型IGBT子模块;选择一个压接型IGBT子模块作为被测试器件,采用铜排短接另一个压接型IGBT子模块;根据被测试器件达到目标芯片温升值时所需的试验电压、冲击电流以及持续时间对被测试器件进行冲击循环试验,在试验过程中,通过触发被测试器件导通,使得被测试器件发生直通短路保护形成一次短路冲击,改善了现有的功率循环试验方法忽略了压接型器件开通、关闭过程对其本身产生的瞬态热冲击损伤影响,无法使器件本身可能存在的可靠性问题得到充分的暴露的技术问题。
搜索关键词: 一种 压接型 igbt 模块 冲击 循环 试验 方法 装置
【主权项】:
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