[发明专利]芯片失效模式的确定方法、终端在审
| 申请号： | 202111005924.7 | 申请日： | 2021-08-30 |
| 公开（公告）号： | CN113823349A | 公开（公告）日： | 2021-12-21 |
| 发明（设计）人： | 不公告发明人 | 申请（专利权）人： | 全芯智造技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12;G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 朱薇蕾;张振军 |
| 地址： | 230088 安徽省合肥市高新区*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种芯片失效模式的确定方法、终端，所述方法包括：获取芯片在多个测试电压下的失效比特；对所获取到的失效比特进行失效模式运算，获得至少一个失效比特组以及每一个失效比特组的失效模式，其中，所述失效比特组包括至少一个测试电压下的失效比特；基于所述失效比特组的失效模式，确定所述失效比特组中失效比特的失效模式。通过本发明方案能够提高芯片失效分析的准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 失效 模式 确定 方法 终端 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于全芯智造技术有限公司，未经全芯智造技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202111005924.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
