[发明专利]一种电容薄膜真空计膜片张紧机构、系统、方法及装置有效

专利信息
申请号: 202111000257.3 申请日: 2021-08-30
公开(公告)号: CN113442459B 公开(公告)日: 2021-11-09
发明(设计)人: 刘乔;侯少毅;胡强;胡琅;卫红;何斌 申请(专利权)人: 季华实验室
主分类号: B29C65/78 分类号: B29C65/78;G01L21/00;B29L31/34
代理公司: 佛山市海融科创知识产权代理事务所(普通合伙) 44377 代理人: 陈志超
地址: 528200 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种电容薄膜真空计膜片张紧机构、系统、方法及装置,其中,张紧机构包括:压紧机构,用于压紧中心膜片外周以固定中心膜片;多点顶出机构,设置在所述压紧机构下方,其设有通过顶出而张紧固定在所述压紧机构上的中心膜片的顶杆组;对位机构,安装在所述压紧机构与多点顶出机构之间,用于对位调节压紧机构和多点顶出机构,所述顶杆组包括若干通过液压驱动伸缩的顶杆;该张紧机构通过多点顶出机构的顶杆组顶出对中心膜片进行张紧即可完成中心膜片的张紧处理,使得中心膜片达到预定张紧力,具有张紧度可控、中心膜片各区域张紧效果均匀等优点。
搜索关键词: 一种 电容 薄膜 真空计 膜片 机构 系统 方法 装置
【主权项】:
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