[发明专利]一种电离层垂直电子密度测量方法

摘要

本发明公开了一种电离层垂直电子密度测量方法，第在时段T内流星余迹通信设备输出n个Tp(t)。在“Tp(t)与VP(t)对应表格”中根据每一个Tp(t)的数值查询VP(t)的数值；测量流星余迹接信号强度P的持续时间Tp(t)，以及流星余迹区域外的电离层垂直电子密度，即流星余迹背景电离层垂直电子密度称V(t)；得到时段T内流星余迹区域背景电离层垂直电子密度V(t)的均值V；得到dv(t)和f(TP(t))；f(TP(t))即为对T时段内的V(t)取均值作为该时段该区域的背景电离层垂直电子密度V。基于GNSS信号的电离层监测采用反演算法推算电离层各层电子密度，得出的流星余迹背景电离层垂直电子密度V更加精确，对该区域电离层活动规律的揭示更加真实有力，可广泛应用于卫星导航精度提升、卫星通信性能改善和短波通信快速选频领域。