[发明专利]一种工件检测方法、系统、设备和存储介质在审
| 申请号： | 202110984495.6 | 申请日： | 2021-08-25 |
| 公开（公告）号： | CN113777109A | 公开（公告）日： | 2021-12-10 |
| 发明（设计）人： | 高昆;李瑜;路见;李成;叶树铃;李岳强;许敢;白章莹 | 申请（专利权）人： | 深圳市青虹激光科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88;G01N21/94;G01N21/956 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518101 广东省深圳市宝安区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种工件检测方法、系统、设备和存储介质，其中，所述方法包括：配方下发，获取待测工件的Lot配方；参数调节，基于待测工件的Lot配方，调节相机的检测参数；所述相机包括线扫相机和面阵相机；启动信号获取，获取启动信号；硬件初始化，对检测硬件进行初始化定位；图像获取，获取待测工件的图像；图像处理，对获取的图像进行处理，并存储处理结果；交互结果，获取图像处理结果；流程判断，基于图像处理结果，判断Lot是否完成；Lot未完成，返回图像获取，对未完成的待测工件进行图像获取；Lot完成，返回配方下发，等待下一批次的待测工件的Lot配方下发，通过本申请所述方案，能够实现不同批次工件的检测，同时提高了工件检测效率和精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 工件 检测 方法 系统 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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