[发明专利]基于对共同邻近方法至多晶系推广的缺陷检索方法及系统有效
| 申请号： | 202110975207.0 | 申请日： | 2021-08-24 |
| 公开（公告）号： | CN113903406B | 公开（公告）日： | 2023-03-10 |
| 发明（设计）人： | 曾雉;汪瑜;张传国;袁伟伟;屈方 | 申请（专利权）人： | 中国科学院合肥物质科学研究院 |
| 主分类号： | G16C20/20 | 分类号： | G16C20/20;G16C20/40;G16C20/70;G16C20/90 |
| 代理公司： | 合肥市浩智运专利代理事务所(普通合伙) 34124 | 代理人： | 张景云 |
| 地址： | 230031 安徽*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明提供的基于对共同邻近方法至多晶系推广的缺陷检索方法及系统，通过对复杂晶体结构进行精简，然后通过累计的近邻数确定分类，通过累计出现的12，14近邻数，利用已知FCC,BCC,HCP、DIAMOND其中一种结构的配位数，再采用对应的配位数进行筛选，得到有缺陷原子和无缺陷原子，然后再通过DXA方法区别出晶界面和层错界面，再利用检索出除晶界面和层错界面以外的缺陷，从而实现针对多晶系的缺陷全面检索的目的。该方法无需对算法本身进行改进，方法简单，覆盖晶系范围广。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 共同 邻近 方法 至多 晶系 推广 缺陷 检索 系统 | ||
【主权项】：
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