[发明专利]一种轴角类芯片自动测试系统的实现方法在审
| 申请号： | 202110972522.8 | 申请日： | 2021-08-23 |
| 公开（公告）号： | CN113759241A | 公开（公告）日： | 2021-12-07 |
| 发明（设计）人： | 颜玲龙;李康;吴文韬;王柳;梁龙营;张明;孟猛 | 申请（专利权）人： | 连云港杰瑞电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3181 | 分类号： | G01R31/3181 |
| 代理公司： | 连云港润知专利代理事务所 32255 | 代理人： | 刘喜莲 |
| 地址： | 222000 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明是一种轴角类芯片自动测试系统的实现方法，于芯片自动测试领域。该方法是基于LabView平台开发的界面控制软件，配合基于Keil平台开发的嵌入式控制软件，对测试、测量用设备和仪器完成参数设置、操纵控制以及数据采集，实现计算机与主控板的通信、数据交换、指令控制，完成自动测试流程，实现对轴角类芯片电压电流，角度转换精度和积分非线性误差，速度精度和最大跟踪速度，参考信号频率，参考中心电压和直流失配，参考电压和交流失配，基准电压和基准电压抑制，以及逻辑输出高电平和低电平功能的测试。本发明方法可以有效替代芯片相应参数的人工测试，同时提高单片芯片的测试效率，提高测试数据的可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 轴角类 芯片 自动 测试 系统 实现 方法 | ||
【主权项】：
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