[发明专利]一种大口径高精度光学元件膜层应力形变调控方法有效
申请号: | 202110959643.9 | 申请日: | 2021-08-20 |
公开(公告)号: | CN113655592B | 公开(公告)日: | 2023-03-31 |
发明(设计)人: | 王晋峰;田杰 | 申请(专利权)人: | 中国科学院国家天文台南京天文光学技术研究所 |
主分类号: | G02B7/185 | 分类号: | G02B7/185;G02B7/00;G02B1/10 |
代理公司: | 南京知识律师事务所 32207 | 代理人: | 李湘群 |
地址: | 210042 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种大口径高精度光学元件膜层应力形变调控方法,其步骤包括:在光学元件的前表面进行主膜系的镀制;在光学元件的后表面进行一次镀膜,即镀制用于抵消光学元件面形变化的抵消膜层;对抵消膜层进行均匀减薄,控制减薄厚度,根据面形精度控制需要,每减薄5nm‑50nm,进行一次光学元件表面面形的检测,直至接近或达到镀膜前的面形精度。本发明由于采用均匀减薄的可控技术,使得光学元件接近或达到镀膜前的面形精度,对于现有技术而言是无法达到的;由于用于抵消的膜层厚度只进行了一次镀膜,高质量光学元件表面质量得以保证;本发明的方法无需进行反向抛光补偿膜系应力变形,大大提高了大口径高精度光学元件的生产效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 口径 高精度 光学 元件 应力 形变 调控 方法 | ||
【主权项】:
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