[发明专利]一种大口径高精度光学元件膜层应力形变调控方法有效

专利信息
申请号: 202110959643.9 申请日: 2021-08-20
公开(公告)号: CN113655592B 公开(公告)日: 2023-03-31
发明(设计)人: 王晋峰;田杰 申请(专利权)人: 中国科学院国家天文台南京天文光学技术研究所
主分类号: G02B7/185 分类号: G02B7/185;G02B7/00;G02B1/10
代理公司: 南京知识律师事务所 32207 代理人: 李湘群
地址: 210042 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种大口径高精度光学元件膜层应力形变调控方法,其步骤包括:在光学元件的前表面进行主膜系的镀制;在光学元件的后表面进行一次镀膜,即镀制用于抵消光学元件面形变化的抵消膜层;对抵消膜层进行均匀减薄,控制减薄厚度,根据面形精度控制需要,每减薄5nm‑50nm,进行一次光学元件表面面形的检测,直至接近或达到镀膜前的面形精度。本发明由于采用均匀减薄的可控技术,使得光学元件接近或达到镀膜前的面形精度,对于现有技术而言是无法达到的;由于用于抵消的膜层厚度只进行了一次镀膜,高质量光学元件表面质量得以保证;本发明的方法无需进行反向抛光补偿膜系应力变形,大大提高了大口径高精度光学元件的生产效率。
搜索关键词: 一种 口径 高精度 光学 元件 应力 形变 调控 方法
【主权项】:
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