[发明专利]一种粗精测尺差频调制与解调的相位激光测距装置与测距方法在审

专利信息
申请号: 202110925287.9 申请日: 2021-08-12
公开(公告)号: CN113671521A 公开(公告)日: 2021-11-19
发明(设计)人: 杨宏兴;李婧;胡鹏程;邢旭;谭久彬 申请(专利权)人: 哈尔滨工业大学
主分类号: G01S17/36 分类号: G01S17/36
代理公司: 哈尔滨市阳光惠远知识产权代理有限公司 23211 代理人: 张宏威
地址: 150001 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 发明是一种粗精测尺差频调制与解调的相位激光测距装置与测距方法。本发明测距装置包括多频率发生模块、激光调制模块、测量光路和光信号接收及处理模块;测距方法开启激光器和多频率发生模块;激光经过调制产生精测尺c/v1、次级粗测尺c/v2和粗测尺c/f,其中通过频率为v3和v3+f信号进行差频调制产生粗测尺c/f;激光分成参考光和测量光并测距;对精测尺进行频率为v1‑f1的差频解调并探测差频信号f1获取精测结果,探测次级粗测尺c/v2和粗测尺c/f并获取相位,合成相位差数据得到被测距离。本发明打破了激光干涉相干长度、探测器件带宽、调制带宽的限制,可实现在未来数十万千米的测量范围需求中达到亚毫米甚至微米级的精确测量。
搜索关键词: 一种 粗精测尺差频 调制 解调 相位 激光 测距 装置 方法
【主权项】:
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