[发明专利]精密元件分拣测试设备有效

专利信息
申请号: 202110921427.5 申请日: 2021-08-11
公开(公告)号: CN113560224B 公开(公告)日: 2022-11-15
发明(设计)人: 裴申环;张新琪;曾小敏 申请(专利权)人: 裴申环;张新琪
主分类号: B07C5/344 分类号: B07C5/344;B07C5/02;B07C5/38
代理公司: 成都恪睿信专利代理事务所(普通合伙) 51303 代理人: 张竞
地址: 231300 安徽*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明属于精密元件测试技术领域,本发明提供了一种精密元件分拣测试设备,包括:旋转台、选向模组、第一功能测试模组、第一上料装置、第二功能测试模组、第三功能测试模组和基座。其中基座用于安装所述旋转台、选向模组、第一功能测试模组、第一上料装置、第二功能测试模组和第三功能测试模组。所述第一上料装置包括第一驱动机构和矩阵排列式储料件,所述第一驱动机构用于驱动所述矩阵排列式储料件沿第一方向往复运动,所述矩阵排列式储料件用于以矩阵排列的方式临时存储被测元件,所述第一上料装置用于将被测元件从选向模组输送至第一功能测试模组中。本发明可以显著提高精密元件的测试速度。
搜索关键词: 精密 元件 分拣 测试 设备
【主权项】:
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