[发明专利]精密元件分拣测试设备

说明书

本发明属于精密元件测试技术领域，本发明提供了一种精密元件分拣测试设备，包括：旋转台、选向模组、第一功能测试模组、第一上料装置、第二功能测试模组、第三功能测试模组和基座。其中基座用于安装所述旋转台、选向模组、第一功能测试模组、第一上料装置、第二功能测试模组和第三功能测试模组。所述第一上料装置包括第一驱动机构和矩阵排列式储料件，所述第一驱动机构用于驱动所述矩阵排列式储料件沿第一方向往复运动，所述矩阵排列式储料件用于以矩阵排列的方式临时存储被测元件，所述第一上料装置用于将被测元件从选向模组输送至第一功能测试模组中。本发明可以显著提高精密元件的测试速度。

技术领域

本发明属于精密元件测试技术领域，具体是一种精密元件分拣测试设备。

背景技术

为保证生产的电子元件可以正常使用，需要对电子元件的各项功能进行测试。电子元件较为精密，且单个元件体积小，测试需求量大。在测试时往往需要将被测试的电子元件按照测试要求的方向进行摆放，但是目前用于对电子元件进行测试的设备中，有的需要人工对电子元件进行排放，有的虽然能实现自动按测试方向摆放，但是摆放效率低，造成后续测试环节等待时间长，从而无法实现精密元件的大规模高速测试。

发明内容

有鉴于此，本发明提供了一种精密元件分拣测试设备用以解决现有的电子元件测试技术测试效率低，检测速度慢的技术问题。

本发明采用的技术方案是：

第一方面，本发明提供一种精密元件分拣测试设备，包括：

旋转台，设置有用于装夹被测元件的若干个装夹装置，所述若干个装夹装置沿在旋转台的周向方向分布，所述旋转台沿其周向方向移送被测元件至各个工位；

选向模组，用于将被测元件的方向调整至预定方向后输送至下一环节，所述选向模组包括第一出料口，调整至预定方向的被测元件由所述第一出料口输送至下一环节；

第一功能测试模组，用于测试被测元件的高低压功能；

第一上料装置，包括第一驱动机构和矩阵排列式储料件，所述第一驱动机构用于驱动所述矩阵排列式储料件沿第一方向往复运动，所述矩阵排列式储料件用于以矩阵排列的方式临时存储被测元件，所述第一上料装置用于将被测元件从选向模组输送至第一功能测试模组中；

第二功能测试模组，用于测试被测元件的导通短路功能；

第三功能测试模组，用于测试被测元件的信号传输DB值衰减功能；

所述第一功能测试模组、第二功能测试模组和第三功能测试模组沿所述旋转台的周向方向分布；

基座，用于安装所述旋转台、选向模组、第一功能测试模组、第一上料装置、第二功能测试模组和第三功能测试模组；

所述第一出料口和所述第一功能测试模组位于所述矩阵排列式储料件的沿第二方向的两侧，所述第一出料口和第一功能测试模组的进料口在第一方向上错开设置，所述第二方向和所述第一方向相互垂直。

优选地，所述矩阵排列式储料件上设置有若干个沿第二方向延伸的第一上料轨道，所述若干个第一上料轨道沿第一方向排列，第一驱动机构驱动所述矩阵排列式储料件沿第一方向移动至其中一个第一上料轨道与所述第一出料口对齐的位置，当其中一个第一上料轨道完成上料后，第一驱动机构驱动所述矩阵排列式储料件沿第一方向移动至下一个第一上料轨道与所述第一出料口对齐的位置，当所有第一上料轨道完成上料后，所述第一驱动机构驱动所述矩阵排列式储料件沿第一方向移动至与第一上料轨道与第一功能测试模组的进料位置对齐的位置进行上料，当完成对第一功能测试模组的上料后，所述第一驱动机构驱动所述矩阵排列式储料件移动至其中一个第一上料轨道与所述第一出料口对齐的位置。