[发明专利]挠性摆片位移测试装置及测试方法有效
| 申请号： | 202110895112.8 | 申请日： | 2021-08-03 |
| 公开（公告）号： | CN113405474B | 公开（公告）日： | 2022-08-12 |
| 发明（设计）人： | 张露;任春华;马昌昌;黎蕾蕾 | 申请（专利权）人： | 重庆大学 |
| 主分类号： | G01B11/02 | 分类号： | G01B11/02;G01P15/093;G01P15/125;G01P21/00 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 周耀君 |
| 地址： | 400030 *** | 国省代码： | 重庆;50 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种挠性摆片位移测试装置及测试方法，挠性摆片包括摆舌及线圈，摆舌的部分表面覆盖有镀金膜层形成反射区，装置包括光源、分光板、温度调节器、第一反射镜组及光电探测器，光源发出的平行光在分光板处分别形成第一检测光及第二检测光，第一检测光经分光板反射至第一反射镜组，经反射后再经分光板透射后被光电探测器接收，第二检测光经分光板透射至反射区，经反射后再经分光板反射后被光电探测器接收，温度调节器用于调节线圈的温度，根据光电探测器接收的光程信息获取挠性摆片的第一位移。通过采用光学相位测量方法来测量石英加速度计的挠性摆片受温度影响的微小位移，解决了传统的电容式检测方法存在的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 挠性摆片 位移 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于重庆大学，未经重庆大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110895112.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
