[发明专利]一种阵列式大场景结构光三维扫描测量方法及其装置在审
| 申请号： | 202110892780.5 | 申请日： | 2021-08-04 |
| 公开（公告）号： | CN113587816A | 公开（公告）日： | 2021-11-02 |
| 发明（设计）人： | 马杰;党旭飞;周荣强;刘伟;张淼 | 申请（专利权）人： | 天津微深联创科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00;G01B11/25;G06T17/20 |
| 代理公司： | 天津知晓邦知识产权代理事务所(普通合伙) 12253 | 代理人： | 肖伟杨 |
| 地址： | 300000 天津市西青区西青经*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种阵列式大场景结构光三维扫描测量方法及其装置，本发明中将编码光栅条纹投影到待测物体表面，由图像采集装置将拍摄到的条纹图像输入到控制装置中，然后根据光栅的形状精确计算出物体表面大量采样点的空间坐标点云数据，对阵列采集中不同位置的点云数据、不同位置的阵列重叠位置的点云数据进行处理，进而更加完整的呈现出物体的三维立体模型；得到的模型可用作三维全尺寸测量检测；本发明测量方法能过够得到更优化的待测工件三维模型，从而是使对待测工件的测量更加准确；本发明的测量装置其结构合理，方便快捷，系统稳定，大大的提高了工业生产现场的检测效率及准确率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 阵列 场景 结构 三维 扫描 测量方法 及其 装置 | ||
【主权项】：
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