[发明专利]基于光强原理测量应变的数码云纹方法、系统、设备及存储介质有效
| 申请号： | 202110888085.1 | 申请日： | 2021-08-03 |
| 公开（公告）号： | CN113720268B | 公开（公告）日： | 2022-10-25 |
| 发明（设计）人： | 方钦志;闫兴伟;晋利 | 申请（专利权）人： | 西安交通大学 |
| 主分类号： | G01B11/16 | 分类号： | G01B11/16 |
| 代理公司： | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人： | 张海平 |
| 地址： | 710049 *** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于光强原理测量应变的数码云纹方法、系统、设备及存储介质，包括：将试件栅粘贴于试件的表面，采集变形前的试件栅照片作为基准栅，在试件变形过程中，采集变形后的试件栅图片作为新的试件栅，将基准栅与新的试件栅叠加，得叠加图片；将试件栅与基准栅上对应点的光强相乘，再将相乘的结果赋予给叠加图片的对应点；分析叠加图片中相邻节距的平均光强差，建立局部应变与相邻节距平均光强差的函数关系，通过全场分析，得试件表面的应变场，完成基于光强原理测量应变的数码云纹，该方法、系统、设备及存储介质的计算精度较高。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 原理 测量 应变 数码 方法 系统 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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